Phasics SID4-Swir波前传感器

基于Phasics专利的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器，提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度， 确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7µm，这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。

     SID4-Swir                   光学器件测量                  自适应光学

 特点：

 由于其独特的专利技术技术，Phasics的SID4-Swir波前传感器具备以下特点：

•  高分辨率：80x64测量点，经济实用，高性价比
•  高灵敏密度：整个光谱范围内相位噪声低于2nm
•  消色差：0.9-1.7μm（可扩展到2.4μm）
•  紧凑：易于集成

 应用：

 透镜测试：SID4 SWIR波前分析仪实时测量光学元件MTF和畸变。适用于光通信，夜视和其他军事和监视设备。无色差，SID4 SWIR涵盖所有光通信波长。

 激光束测试：SID4 SWIR也可以短波红外光源，像1.55μm激光器或用于激光导向系统的LED。

 SID4-Swir产品参数：