Phasics SID4 UV波前传感器

Phasics利用其专利的四波横向剪切干涉技术，在紫外波前测量提供了优秀的解决方案。它有非常高空间分辨率（250x250测量点）和高灵敏度（0.5 nm RMS）。这确保了UV镜头，表面和UV激光束测试的精确性。由于它小巧，易于使用，能有效地适应各种实验条件。

   SID4-UV                      光学器件测量                  自适应光学

特点：

由于其独特的专利技术技术，Phasics的SID4 UV波前传感器具备以下特点：

• 超高分辨率：250x250测量点
• 高灵敏度：0.5nm
• 直接测量：测量光学元件和发散光无需中继透镜
• 高性价比：光束和透镜测量高性价比解决方案

 应用：

SID4 UV紫外波前传感器提供应用：

• 紫外激光器：光束测试与校正
• 紫外镜头的质量控制：个镜头的MTF和畸变，容易且准确的离轴测量
• 表面检查：曲率半径，三维形状

 SID4 UV产品参数：