phasics SID4-Lwir 8-14μm高精度波前传感器

基于Phasics专利的四波横向剪切干涉技术和焦平面非冷却相机的SID4 LWIR工作范围在长波红外8-14μm，结构紧凑，易于集成到光学平台用于长波红外激光束和光学元件测试。

    SID4-Swir                   光学器件测量                 激光束测试

 特点：

由于其独特的专利技术技术，Phasics的SID4-LWIR波前传感器具备以下特点：

• 高分辨率：160x108测量点
• 高发散光测量：无需转接透镜
• 消色差：8-14μm
• 紧凑：易于集成

 应用：

元器件测试：SID4 LWIR波前分析仪实时测量光学元件MTF和畸变。适用于热成像目标，安防，安防视觉。无色差，易于集成。

激光束测试：SID4 LWIR能用于测试光束特性（M²、Strehl比、强度分布，光束参数…）。也适用于远红外光束测量如CO2激光器、红外OPO激光源…

 SID4-Lwir产品参数：