phasics SID4系列 波前分析仪
Phasics SID4系列 波前传感器
法国Phasics 公司的产品基于其波前测量专利技术，即4 波横向剪切干涉技术。（4-Wave LateralShearing Interferometry）。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上，这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围完美结合在了一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。
Phasics波前传感器具有如下独特技术优势：
- 高分辨率相位图：可达400ｘ300。
- 可直接测量高发散光束
- 消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。
应用方向：
- 激光束质量分析
- 自适应光学
- 光学系统测量
- 生物成像
- 热成像，等离子体表面物理
激光光束测量
自适应光学
光学系统测量
产品参数：
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型号 |
SID4 |
SID4-HR |
SID4-DWIR |
SID4-SWIR |
SID4-NIR |
SID4-UV-HR |
SID4- UV |
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孔径 |
3.6 × 4.8 mm² |
8.9 × 11.8 mm² |
13.44 × 10.08 mm² |
9.6 × 7.68 mm² |
3.6 × 4.8 mm² |
13.6 ×10.96 mm² |
8.0 × 8.0 mm² |
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空间分辨率 |
29.6 µm |
29.6 µm |
68 µm |
120 µm |
29.6 µm |
40 µm |
32 µm |
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采样点/测量点 |
160 × 120 |
400 × 300 |
160 × 120 |
80 × 64 |
160 × 120 |
345 × 275 |
250 × 250 |
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波长 |
400nm~1100nm |
400nm~1100nm |
3~5µm,8~14 µm |
0.9 ~ 1.7 µm |
1.5 ~ 1.6 µm |
190 ~ 400 nm |
250 ~ 400 nm |
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动态范围 |
> 100 µm |
> 500 µm |
N/A |
~ 100 µm |
> 100 µm |
> 200 µm |
> 200 µm |
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精度 |
10 nm RMS |
15 nm RMS |
75 nm RMS |
10 nm RMS |
> 15 nm RMS |
10 nm RMS |
10 nm |
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灵敏度 |
< 2 nm RMS |
< 2 nm RMS |
< 25 nm RMS |
3nm RMS(高增益） <1nmRMS(低增益） |
< 11 nm RMS |
1nm RMS @250nm,2µJ/cm² |
0.5 nm |
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采样频率 |
> 60 fps |
> 10 fps |
> 50 fps |
25/30/50/60 fps |
60 fps |
30 fps |
30 fps |
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处理频率 |
10 Hz (高分辨率) |
3 Hz (高分辨率) |
20 Hz |
> 10 Hz (高分辨率） |
10 Hz |
> 3 Hz (高分辨率） |
1 Hz |
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尺寸 |
54×46×75.3mm |
54×46×79mm |
85×116×179mm |
50×50×90mm |
44×33×57.5mm |
51 × 51 × 76 mm |
95×105×84mm |
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重量 |
250 g |
250 g |
1.6 kg |
300 g |
250 g |
300 g |
900 g |
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